數(shù)字芯片測試系統(tǒng)解決方案

覆蓋數(shù)字芯片測試全流程,為各環(huán)節(jié)測試提供創(chuàng)新性方案

  • SoC芯片CP/FT檢測

    SoC芯片CP/FT檢測

    辰卓科技系列化數(shù)字測試機(jī)方案可用于主流SoC芯片數(shù)字測試,方案具備如下優(yōu)勢:

      ●  并測度高:通道數(shù)多,單機(jī)可配1024IO,支持256-site并測,典型配置1024/768/512/384通道

      ●  存儲深度大:數(shù)字Pattern存儲深度可達(dá)128M每行;

      ●  DC能力強(qiáng):數(shù)字測試板集成PPMU、BPMU、BDPS功能,支持獨(dú)立的Force,Sense管腳,支持大電流輸出與高精度量測;

      ●  功能完善:提供測試程序、Pattern格式轉(zhuǎn)換器;提供Cable、Docking、Pogo Tower多種測試接口方案;支持常用外設(shè)接口協(xié)議,提供燒錄、配置功能。


  • 使用場景:CP測試

      ●  數(shù)字通道數(shù)、測試頻率、存儲深度行業(yè)領(lǐng)先;

      ●  易于擴(kuò)展,根據(jù)測試需求可插板擴(kuò)容,最大能實現(xiàn)高達(dá)256-site并測;

      ●  具備高壓、大電流驅(qū)動能力及高精度電壓、電流量測能力;

      ●  支持Cable、Docking、Pogo Tower多種接口,滿足多種芯片測試需求 n自帶主控,能快速適配各種Prober機(jī)臺。


    使用場景:CP測試
  • 使用場景:FT測試

    使用場景:FT測試

      ●  輕量化數(shù)字測試機(jī),測試頻率、存儲深度行業(yè)領(lǐng)先,可為數(shù)字芯片F(xiàn)T測試提供高性價比解決方案;

      ●  具備高壓、大電流驅(qū)動能力及高精度電壓、電流量測能力;

      ●  支持Cable、Docking多種接口,滿足多種芯片測試需求;

      ●  自帶主控,能快速適配各種Handler機(jī)臺。

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